產(chǎn)生干擾必須具備三個(gè)條件：干擾源、干擾通道及易受干擾設(shè)備。外部干擾通道主要通過分布電容的電磁耦合傳到內(nèi)部；內(nèi)部干擾通道則表現(xiàn)為極為復(fù)雜。由于設(shè)備敏感元件的選用和結(jié)構(gòu)布局等不盡合理，造成本身抗干擾能力差，因此要從設(shè)備設(shè)計(jì)上對(duì)干擾加以抑制，降低其幅度，減少其影響力。
1、干擾途徑
開關(guān)電源的防雷干擾工作重點(diǎn)是防止感應(yīng)雷入侵。入侵系統(tǒng)的雷電過電壓過電流主要有以下三個(gè)途徑。蘇州泰思特研發(fā)生產(chǎn)出
雷電直接效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)、雷電間接效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)等高壓沖擊試驗(yàn)設(shè)備。
（1）由交流220V電壓供電線路入侵
開關(guān)電源的電壓由電力線路輸入室內(nèi)，電力線路可能遭受直擊雷和感應(yīng)雷。直擊雷擊中高壓電力線路，經(jīng)過變壓器耦合到220V低壓，入侵開關(guān)電源；低壓線路也可能被直擊雷擊中或感應(yīng)雷電引起過電壓。在220V電源線上出現(xiàn)的雷電過電壓平均可達(dá)10000V，對(duì)開關(guān)電源可造成毀滅性打擊。電源干擾復(fù)雜性中眾多原因之一就是包含著眾多的可變因素，電源干擾可以以“共模”或“差模”方式存在。電源干擾復(fù)雜性中的第二個(gè)原因是干擾情況可以從持續(xù)周期很短暫的尖峰干擾到全失電之間變化。電源干擾進(jìn)入到開關(guān)電源的途徑有：一是電磁耦合；二是電容耦合；三是直接進(jìn)入。
（2）由信息線路入侵
當(dāng)?shù)孛嫱怀鑫镌庵睋衾状驌魰r(shí)，強(qiáng)雷電電壓降臨近土壤擊穿，雷電流直接入侵到電纜外皮，進(jìn)而擊穿外皮，使高壓入侵信息傳輸線路。
雷云對(duì)地面放電時(shí)，在線路上感應(yīng)出上千伏的過電壓，擊壞與線路相連的電器設(shè)備，通過設(shè)備連線侵入通信線路。這種入侵沿通信線路傳播，涉及面廣，危害范圍大。
若通過一條多芯電纜連接不同來源的導(dǎo)線或者多條電纜平行鋪設(shè)時(shí)，當(dāng)某一導(dǎo)線被雷電擊中時(shí)，會(huì)在相鄰的導(dǎo)線中感應(yīng)出過電壓，擊壞低壓電子設(shè)備。
（3）地電位反擊電壓通過接地體入侵
雷擊時(shí)，強(qiáng)大的雷電流經(jīng)過引下線和接地體泄入大地，在接地體附近形成放射型的電位分布，這時(shí)若有連接電子設(shè)備的其他接地體靠近，即產(chǎn)生高壓地電位反擊，入侵電壓可高達(dá)數(shù)萬伏。建筑物防直擊雷的避雷器引入強(qiáng)大的雷電流通過引下線入地，在附近空間產(chǎn)生強(qiáng)大的電磁場(chǎng)變化，會(huì)在相鄰的導(dǎo)線上感應(yīng)出雷電過電壓。
2、聯(lián)合機(jī)制
雷電沖擊影響微電子設(shè)備構(gòu)成系統(tǒng)的耦合機(jī)制有下面幾種。
電阻耦合。雷電放電將使受影響的物體相對(duì)于遠(yuǎn)端地的電位升高至幾百千伏，地電位升高形成的電流將分布到設(shè)備的金屬部分，如連接到系統(tǒng)參考點(diǎn)數(shù)據(jù)線和電源電線。電纜屏蔽層的電流將分布到設(shè)備的金屬部分，如連接到系統(tǒng)參考點(diǎn)數(shù)據(jù)線和電源電線。電纜屏蔽層的電流在屏蔽層和芯線之間引起過電壓，其數(shù)值與傳輸阻抗成正比例。
磁耦合。在導(dǎo)體上流通的或處在雷電通道的雷電流會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng)，在幾百米范圍內(nèi)，可以認(rèn)為磁場(chǎng)的時(shí)間變化率與雷電電流時(shí)間變化率相同。然而，磁場(chǎng)經(jīng)常被建筑材料和周圍的物體所衰減和改變。磁場(chǎng)的變化會(huì)在室內(nèi)外電纜設(shè)備上產(chǎn)生感應(yīng)電流和電壓。
電耦合。雷電通道下端的電荷會(huì)在附近產(chǎn)生一個(gè)很強(qiáng)的電場(chǎng)，它對(duì)鞭狀天線設(shè)備有影響，而對(duì)于建筑物內(nèi)部電場(chǎng)干擾一般可以忽略。
電磁耦合。遠(yuǎn)距離雷電放電產(chǎn)生的電磁場(chǎng)會(huì)在大范圍的數(shù)據(jù)傳輸網(wǎng)上感應(yīng)出過電壓，這種干擾會(huì)傳導(dǎo)到接口上，但這種情況下直接輻射的電磁場(chǎng)很難對(duì)建筑物或機(jī)柜內(nèi)的微電子設(shè)備造成破壞。
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