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干貨分享 | 汽車電子拋負載測試差異性研究
作者:  日期:2024-12-05  瀏覽次數(shù):146次  來源:
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拋負載脈沖的形成 //

拋負載是指在蓄電池充電時,斷開發(fā)電機與蓄電池的連接而引起發(fā)電機輸出大電壓尖峰,從而使得其它連接到發(fā)電機電源的設(shè)備受到破壞的威脅。在交流發(fā)電機內(nèi)部包含感性線圈和整流器,在對蓄電池進行大電流充電時,這時如果突然斷開蓄電池,由于感性器件的電流無法突變,將引起交流發(fā)電機輸出電壓急劇上升。




拋負載P5A參數(shù)Throw load P5A parameter






存在問題:標(biāo)準(zhǔn)需求按照2Ω內(nèi)阻+2Ω負載電阻校驗波形,那么選擇其它內(nèi)阻時,脈寬該如何變化呢?



根據(jù)標(biāo)準(zhǔn),波形為雙指數(shù)波。由于Tr << Td,脈沖形成回路簡化為上圖。

空載時Td=400ms,當(dāng)Ri和Rl都是2Ω時Td=200ms,則可以推出Rm=Ri+Rl=4Ω。Cm也隨之確定(Cm=400ms/2.3/4=43mF)。


回到剛才的問題:當(dāng)Ri變化時,Cm和Rm要不要一起改變呢?

根據(jù)這些年測試結(jié)果看,大部分國內(nèi)外的拋負載發(fā)生器切換Ri時,Cm和Rm是固定的(根據(jù)脈寬而不是實際的Cm和Rm),但也有某些拋負載發(fā)生器,選擇不同的內(nèi)阻加匹配負載校準(zhǔn),脈寬都是變?yōu)?0%。這兩種發(fā)生器(除了2Ω內(nèi)阻)測試結(jié)果可能會差別較大。

? 發(fā)生器的衍變 / Evolution of the generator


傳統(tǒng)的拋負載發(fā)生器是用模擬器件做的。隨著各種標(biāo)準(zhǔn)推出,各個車廠對波形脈沖寬度要求也越來越多,靠切換器件實現(xiàn)各種需求變得不現(xiàn)實了。目前主流的是用功放模擬拋負載的波形。



用功放實現(xiàn)拋負載的波形,僅僅從計量校準(zhǔn)的角度看,沒有任何問題,但帶上試品后產(chǎn)生的效果,可能會差異巨大。

標(biāo)準(zhǔn)要求:校準(zhǔn)波形時供電電壓設(shè)置為0V。實際情況是在系統(tǒng)供電后,帶載波形不盡相同。

 測試案例 1  

一個客戶反映使用LDS 200N30 在3.2.2下內(nèi)阻2.5ohm連續(xù)試驗10次,試驗間隔60s,器件(TVS)無損壞。而在使用某進口設(shè)備在3.3.2下內(nèi)阻2.5ohm連續(xù)試驗10次,試驗間隔60s,器件(TVS)無法耐受。于是在同一環(huán)境下測試驗證。



DUT電壓=28V;試驗電壓=174V,td=350ms??蛰d波形相差不大。


△ 3CTEST LDS 200N30 波形




△ 進口設(shè)備波形


相同測試實驗波形下抑制電壓差異不大,一般差異不大于1V。抑制寬度差異稍大,進口設(shè)備帶負載后鉗位寬度為360ms,已超過試驗要求的350ms,比空載的脈寬還要寬,應(yīng)該是內(nèi)部做了補償。



△ 3CTEST LDS 200N30 波形



△ 進口設(shè)備波形

 測試案例 

某國內(nèi)品牌的拋負載發(fā)生器,測試一款14V的TVS管,嚴酷度比LDS 200N30高很多。用該發(fā)生器測試,參數(shù)設(shè)置:Tr:10ms;Td:40ms;Up:30v,Ri:2Ω。帶14V的TVS管測試,理論峰值電流8A左右,實測峰值電流63A,設(shè)置更大的內(nèi)阻,輸出波形無任何變化。



△ 空載電壓波形



△ 帶TVS負載電壓/電流波形
? TVS測試TVS TEST
TVS類的拋負載試驗,對于器件的嚴酷度主要體現(xiàn)在產(chǎn)生抑制或鉗位時的吸收能量及能量的耗散,即P=∫vidt。嚴酷度主要取決于鉗位時的峰值電流。鉗位峰值電流越大,鉗位電壓也會越高。當(dāng)TVS穩(wěn)壓幅度一定的情況下,其吸收的能量主要取決于電流,而此種情況電流取決于內(nèi)阻。



電流Ir=(Up-UL)/Ri。測試案例2中,Ir=(30-14)/2=8A。就算TVS已經(jīng)擊穿,UL電壓為0,則Ir=(30-0)/2=15A。而實測峰值電流63A,遠遠大于理論值。


虛擬內(nèi)阻 

之所以出現(xiàn)實際電流遠大于理論值的情況,是因為發(fā)生器的內(nèi)阻不是真實的阻抗,而是所謂的虛擬阻抗。設(shè)備測量負載的靜態(tài)阻抗,然后通過計算,改變輸出脈沖的幅度和脈寬。如果是純阻性負載,測試結(jié)果可能差別不大。但遇上TVS或壓敏之類的器件,有電壓電流突變的情況,而發(fā)生器又不能快速、動態(tài)做相應(yīng)調(diào)整,則會出現(xiàn)這類測試結(jié)果不符合理論值的現(xiàn)象。

虛擬內(nèi)阻可以做到很大的設(shè)置范圍。但理論上虛擬內(nèi)阻不適合這個使用場景:因為只有先出現(xiàn)電流才能判斷負載情況,然后再修正輸出波形,修正滯后太多,明顯不合理。

目前的測試結(jié)果表明:某些拋負載發(fā)生器使用虛擬內(nèi)阻,甚至都沒有動態(tài)調(diào)整波形。

如果出現(xiàn)測試結(jié)果和預(yù)估值差異太大的情況,可以同時測量試品處的電壓、電流波形,根據(jù)數(shù)據(jù)判斷發(fā)生器是否有問題。

■  測試案例3  

兩家拋負載設(shè)備,同等條件下測試相同產(chǎn)品,結(jié)果差異大。

設(shè)定參數(shù):UA: 28 V;US: 151 V;US*:58V;Ri:1 Ω;td:100 ms。

拋負載模擬器LDS 200N30 電壓讀值:42.6V,電流讀值:93A;

另一臺發(fā)生器電壓讀值:38V;電流讀值:4.8A。





? P5B測試可比性TVS TEST


LDS 200N30 測試數(shù)據(jù):電壓讀值:42.6V,電流讀值:93A。




電壓相差不大,電流一個93A,一個4.8A,相差近20倍,到底哪個是正確的呢?

如果按照P5A的主回路模型計算,電流Ir=(Up-UL)/Ri=(58-38)/2=10A,和LDS 200N30測試數(shù)據(jù)相差很大,和另一臺設(shè)備的測試數(shù)據(jù)相對接近。



實際是這樣嗎?需要從標(biāo)準(zhǔn)中P5B模擬的波形機理去尋找答案。



標(biāo)準(zhǔn)表明波形B模擬交流發(fā)電機內(nèi)部含有對拋負載波形的抑制功能。



需要注意的是,發(fā)電機產(chǎn)生的拋負載波形還是A波形,只是被限幅,實際波形軌跡仍要按照A波形。

△ 發(fā)電機限幅示意圖




交流發(fā)電機限幅是測量輸出端的電壓值,當(dāng)電壓過高,則切斷勵磁電路。
如果輸出端帶了TVS管作為負載,且TVS管的限幅值低于發(fā)電機限幅值,則發(fā)電機不會啟動限幅功能。

測試結(jié)果分析:

真實的P5B應(yīng)該如圖所示,在內(nèi)阻Ri前端輸出脈沖A,內(nèi)阻后端有限幅模塊。
如果負載是TVS,則限幅模塊不起作用。
回到剛才的測試:實際電流=(Ua-Ul)/Ri;而不是實際電流=(Ub-Ul)/Ri。這個現(xiàn)象明顯是在Ua處發(fā)的脈沖B而不是脈沖A。

? 總結(jié)Summary
由于拋負載脈沖能量太大,不同的標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)要求也各不相同,導(dǎo)致脈沖寬度跨度較大,內(nèi)阻也很多,所以現(xiàn)在拋負載發(fā)生器基本都是用功放實現(xiàn)。由于對發(fā)生器機理和真實波形模擬的理解和認知不同,會導(dǎo)致不同廠家的拋負載發(fā)生器在測試時,測試效果相差很大。


存在最大的問題有3個:
1、虛擬內(nèi)阻:非真實的內(nèi)阻在計量校準(zhǔn)設(shè)備沒有問題,測試含有TVS之類的器件/模塊則會導(dǎo)致不能限流,瞬間電流很大從而導(dǎo)致器件損壞。這個問題可以通過在輸出端測試電流很容易判斷出來;

2、脈沖B理解錯誤:錯誤的認為脈沖B的電壓比較低,所以測試嚴酷度也低。發(fā)生器發(fā)出的電壓波也直接是脈沖B。這種測試效果會差很多,這個問題也可以通過在輸出端測試電流,很容易判斷出來;


3、波形動態(tài)模擬不真實:可能是由于算法的問題,不同的發(fā)生器帶相同的負載后幅度相差不大,但寬度差別很大。這個問題比較難排查,只能通過仿真計算。但有一點:必須保證波形合格,且符合常識。


還有一些其他因素可能會導(dǎo)致測試結(jié)果有差異:

1、由于試驗效果與試驗環(huán)境溫度、特別是試品自身溫度有著密切的關(guān)系。為保證試驗效果的可比性,試驗室環(huán)境溫度為20~25℃,試驗開始前必須保證試品溫度與室溫一致。

2、由于7637、16750對拋負載波形電壓的要求誤差為±10%,極端情況下不同儀器設(shè)備之間可能產(chǎn)生20%的差異,從試驗結(jié)果可知:當(dāng)輸出電流差異超過10%時可能導(dǎo)致試驗結(jié)果的截然不同

3、7637、16750對拋負載波形電壓寬度的要求誤差為±20%,在以次數(shù)為嚴酷度考核依據(jù)時,對于以處于臨界狀態(tài)的DUT來說,設(shè)備間的差異(滿足標(biāo)準(zhǔn)誤差范圍)可造成試驗結(jié)果的截然不同。

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