EMC測(cè)試是指除經(jīng)典的EMC測(cè)試之外，對(duì)設(shè)備、系統(tǒng)工作性能存在潛在影響的干擾的測(cè)試。
這里的干擾的產(chǎn)生并不像經(jīng)典測(cè)試中所測(cè)量的那樣，相對(duì)較為直觀容易為人們所觀察和理解，這里所面對(duì)的干擾更多是在設(shè)備工作中由設(shè)備內(nèi)部非線性、工藝問(wèn)題等原因引起的。
其具體內(nèi)容包括頻率特性測(cè)試、屏蔽效能測(cè)試、EMI濾波器安全性測(cè)試、天線隔離度測(cè)試、接收機(jī)的互調(diào)傳導(dǎo)敏感度測(cè)試、交調(diào)傳導(dǎo)敏感度測(cè)試、三階及無(wú)源互調(diào)產(chǎn)物測(cè)試、空間微放電現(xiàn)象測(cè)試等。
1、頻率特性測(cè)試
頻率特性測(cè)試是指對(duì)無(wú)線電發(fā)射信號(hào)的頻譜特性，包括對(duì)發(fā)送信號(hào)的頻率及其穩(wěn)定度、發(fā)送信號(hào)帶寬、功率以及信號(hào)接收通路的各種響應(yīng)進(jìn)行測(cè)試。
它區(qū)別于干擾發(fā)射測(cè)試，因?yàn)楹笳咦⒅氐氖浅ぷ黝l率外的發(fā)射。
1）發(fā)射機(jī)的測(cè)試。頻率特性測(cè)試可通過(guò)輻射場(chǎng)方式進(jìn)行，也可通過(guò)閉合回路的傳導(dǎo)方式進(jìn)行。前者將發(fā)射機(jī)與測(cè)試接收機(jī)直接連接，利用頻譜分析儀測(cè)量數(shù)據(jù)；后者一般在暗室里進(jìn)行，在一定距離上利用天線組合頻譜儀測(cè)試。
2）接收機(jī)靈敏度的測(cè)試
被測(cè)試接收機(jī)置于工作狀態(tài)的調(diào)制模式，將其調(diào)諧至標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)頻率，通過(guò)改變調(diào)制頻率（對(duì)調(diào)頻、調(diào)幅接收機(jī)等）、射頻頻率（對(duì)單邊帶接收機(jī)）或本振頻率（超外差接收機(jī)），使接收機(jī)載波輸出（信號(hào)+噪聲）最大（接收機(jī)工作在最佳狀態(tài)），然后改變輸入電平，使其產(chǎn)生標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)，記錄此時(shí)的最小電平。對(duì)于調(diào)制系統(tǒng)還應(yīng)引入一個(gè)未調(diào)制信號(hào)，改變此信號(hào)的輸入電平和頻率，使其在接收機(jī)音頻輸出端產(chǎn)生20dB的靜噪，記錄此時(shí)的最小輸入電平。對(duì)于脈沖調(diào)制接收機(jī)則需注意在給定脈沖寬度、脈沖重復(fù)頻率等特定情況下的最大、最小靈敏度極限值。
2、屏蔽效能測(cè)試
1）電纜測(cè)試
電纜測(cè)試是測(cè)量射頻泄露的量。測(cè)試前應(yīng)注意匹配阻抗問(wèn)題，電纜要與測(cè)試儀器實(shí)現(xiàn)匹配以免因失配引起測(cè)試的不可靠問(wèn)題。
2）機(jī)箱屏蔽測(cè)試
機(jī)箱由于留有裝配界縫、散熱孔、安裝調(diào)節(jié)軸、表頭等的開(kāi)洞、電纜的引出孔等原因，都會(huì)產(chǎn)生電磁泄露從而降低屏蔽效能。但通過(guò)合理設(shè)計(jì)可使效能降低達(dá)到可接受水平。而對(duì)于屏蔽效能的測(cè)試就是檢測(cè)這項(xiàng)設(shè)計(jì)是否合理可行的依據(jù)。
3、天線耦合度測(cè)試
測(cè)試是用來(lái)衡量天線間相互作用的程度。由于天線輻射的非理想化以及交叉極化的產(chǎn)生，因此天線間會(huì) 出現(xiàn)不希望的功率耦合。
4、EMI濾波器測(cè)試
EMI濾波器由于其功能的特殊，要求在測(cè)量時(shí)須注意以下幾點(diǎn)：安全性參數(shù)測(cè)試，如漏電流、試驗(yàn)電壓、絕緣電阻、放電電阻等；電流加載進(jìn)行插入損耗測(cè)試；插入損耗與濾波器端接阻抗、負(fù)載相關(guān)，檢測(cè)時(shí)應(yīng)按標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置。
5、互調(diào)性能測(cè)試
互調(diào)是指當(dāng)兩個(gè)或多個(gè)頻率的輸入信號(hào)同時(shí)進(jìn)入接收系統(tǒng)前端時(shí)，由于系統(tǒng)的非線性（這里的非線性不一定只限定在非線性設(shè)備如檢波器，有些設(shè)備在輸入功率較強(qiáng)時(shí)也會(huì)工作在非線性區(qū)），在射頻放大器的任一級(jí)或混頻器中混頻，使得輸出信號(hào)除原有頻譜外還有新的頻率分量。
互調(diào)測(cè)試主要是測(cè)試儀器的互調(diào)敏感度，即通信接收機(jī)、射頻放大器、無(wú)線電收發(fā)信機(jī)、雷達(dá)接收機(jī)、聲納接收機(jī)以及電子對(duì)抗設(shè)備接收機(jī)等對(duì)互調(diào)產(chǎn)物的抗擾能力。
在EMC的互調(diào)干擾測(cè)試領(lǐng)域，首先計(jì)算出可能在接收機(jī)內(nèi)產(chǎn)生的干擾信號(hào)及諧波的差頻。接下來(lái)要確定的是標(biāo)準(zhǔn)參考輸出電平，即指在被測(cè)設(shè)備正常工作時(shí)的輸出值。一般用（信號(hào)/噪聲）/噪聲來(lái)表示。當(dāng)設(shè)備工作于非正常狀態(tài)時(shí)期標(biāo)準(zhǔn)參考輸出由相應(yīng)規(guī)范給出。測(cè)量時(shí)確定互調(diào)產(chǎn)物極限，用高于標(biāo)準(zhǔn)參考輸出電平的分貝數(shù)表示。當(dāng)輸入電平高于標(biāo)準(zhǔn)參考電平某一值時(shí)接收機(jī)進(jìn)入非線性區(qū)，則這個(gè)值確定為接收機(jī)非線性工作點(diǎn)。
6、交調(diào)傳導(dǎo)敏感度測(cè)試
交調(diào)是指一個(gè)足夠強(qiáng)的無(wú)用信號(hào)進(jìn)入接收機(jī)，由于非線性器件的存在，會(huì)使得接收機(jī)的有用信號(hào)受到干擾，產(chǎn)生寄生調(diào)制。這種干擾存在的條件是干擾信號(hào)有一定強(qiáng)度，即只要干擾信號(hào)有一定強(qiáng)度就存在干擾。
7、無(wú)源互調(diào)產(chǎn)物測(cè)試
無(wú)源互調(diào)是指由無(wú)源器件的固有非線性導(dǎo)致的互調(diào)產(chǎn)物。一般的PIM現(xiàn)象是由于電流流過(guò)非線性部件產(chǎn)生的。其產(chǎn)生機(jī)理復(fù)雜，與材料性質(zhì)、結(jié)構(gòu)、通道加載、系統(tǒng)裝配工藝相關(guān)。
8、空間微放電現(xiàn)象測(cè)試
微放電現(xiàn)象是指在真空條件下，電子在強(qiáng)微波電場(chǎng)加速下，在金屬表面之間產(chǎn)生的二次電子倍增現(xiàn)象，即在傳輸微波大功率的無(wú)源部件中出現(xiàn)的一種射頻擊穿現(xiàn)象。這種現(xiàn)象主要是由于設(shè)計(jì)不當(dāng)、加工工藝、表面處理、材料、污染等因素引起，當(dāng)功率、頻率和部件內(nèi)部結(jié)構(gòu)縫隙尺寸滿(mǎn)足一定關(guān)系時(shí)出現(xiàn)的。
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